оптимальные

цены

Сервисное

Обслуживание

Комплексные

поставки

Выезд специалиста и

показ оборудования

Толщиномеры покрытий

Толщиномер шарового истирания Константа Ш1

 Предназначен для измерения толщины тонких твердых покрытий на любых основаниях.

  • возможность определения толщины каждого из слоев многослойного покрытия; 
  • возможность определения толщины покрытий на плоских, цилиндрических и сферических поверхностях; 
  • минимальная зона контроля – диаметром не более 2-5 мм (в зависимости от диаметра шара);
  • возможность использования как в лабораторных, так и пpоизводственных условиях; 
  • простота и надежность конструкции; 
  • мобильность (Константа-Ш1М).
  • Диапазон измеряемых значений от 1 мкм до 150 мкм;
  • абсолютная погрешность  ±((0,01…0,05)T+0,2) мкм;
  • частота вращения вала 100-1000 об/мин;
  • программируемое время диагностики от 10 секунд до 99 минут;
  • абразивная суспензия (алмаз), размер частиц от 0,5 до 10 мкм;
  • измерительный микроскоп: 20х кратный.

Принцип измерения толщиномера Константа Ш1 основывается на определении значений геометрических размеров сферы ("сферического шлифа"), получаемой при абразивном истирании защитного покрытия и, частично, основы образца посредством стального вращающегося шарика с добавлением в контактную зону абразивной алмазной суспензии.

Толщина слоя защитного покрытия t, мм определяется по формуле:

t = (Dк2-Dл2)/4D или t = X*Y/D,

где

D – диаметр истирающего шара, мм;
Dк – диаметр полученного кратера истирания, мм;
Dл – диаметр образовавшейся лунки в покрытии, мм;
X,Y – размеры зон истирания согласно схеме, мм.

Комплект поставки толщиномера шарового истирания покрытий Константа Ш1:

  • толщиномер «Константа-Ш1»;
  • истирающий шар, D= 10, 20, 30 мм;
  • руководство;
  • упаковочная тара.

Дополнительные принадлежности для толщиномера Константа Ш1:

  • истирающие шары (дополнительно по заказу);
  • микроскоп МПБ-3М (30х, 50х кратный); МИККО (20х кратный);
  • абразивная суспензия (алмаз) диаметр частиц от 0,5 до 10 мкм;
  • устройство крепежа и позиционирования диагностируемых образцов;
  • АКБ+ЗУ.
У вас возникли вопросы?
Заполните форму и наш специалист свяжется с Вами!